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            著色滲透探傷劑

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            USPM-RU-W鏡片反射率測定儀

            2021-06-26
            USPM-RU-W鏡片反射率測定儀
            詳細介紹:

            USPM-RU-W鏡片反射率測定儀

            奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率,因此十分適用于光學元件與微小的電子部件等產品。

            近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W:規格


            反射率測定

            透過率測定*1

            45度反射測定*1

            名稱

            近紅外顯微分光測定儀

            近紅外顯微分光測定儀用
            透過測定選配件

            近紅外顯微分光測定儀用
            45度反射測定選配件

            型號

            USPM-RU-W

            測定波長

            380~1050nm

            測定方法

            對參照樣品的比較測定

            對100%基準的透過率測定

            對參照樣品的比較測定

            測定范圍

            參照下列對物鏡的規格

            約?2.0mm

            測定
            再現性(3σ)*2

            反射率測定

            使用10×、20×物鏡時

            ±0.02[%]以下(430-1010nm)、
            ±0.2[%]以下(上述以外)

            ±1.25[%]以下(430-1010nm)、
            ±5.0[%]以下(左側記載除外)

            使用40×物鏡時

            ±0.05[%]以下(430-950nm)、
            ±0.5[%]以下(上述以外)


            厚膜測定

            ±1% 

            -

            波長顯示分解能

            1nm

            照明附件

            專用鹵素燈光源  JC12V 55W(平均壽命700h)

            位移受臺

            承載面尺寸:200(W)×200(D)mm  
            承重:3 kg
            工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm

            傾斜受臺

            承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm
            承重: 1 kg
            工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1°

            裝置質量

            主體:約26 kg(PC除外)

            主體:約31 kg(PC除外)*3

            控制電源箱:約6.7kg

            裝置尺寸

            主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm

            主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm

            控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm

            電源規格

            輸入規格:100-240V (110VA) 50/60Hz

            使用環境

            水平無振動的場所
            溫度:15~30℃
            濕度:15~60%RH(無結露)

            *1 選件組件  *2 本社測定條件下的測定  *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。


            對物鏡

            型號

            USPM-OBL10X

            USPM-OBL20X

            USPM-OBL40X

            倍率

            10x

            20x

            40x

            NA

            0.12

            0.24

            0.24

            測定范圍*4

            70μm

            34μm

            17μm

            工作距離

            14.3mm

            4.2mm

            2.2mm

            樣品的曲率半徑

            ±5mm~

            ±1mm~

            ±1mm~

            *4 點徑


            標簽

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