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            著色滲透探傷劑

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            USPM-RU III鏡片反射率測定儀

            2021-06-26
            USPM-RU III鏡片反射率測定儀
            詳細介紹:

            USPM-RU III鏡片反射率測定儀

            USPM-RU III反射儀可jing確測量當前分光儀無法測量的微小、薄樣本的光譜反射率,不會與樣本背面的反射光產生干涉。是十分適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統。


            1. 消除背面反射光

            采用特殊光學系統,消除背面反射光。

            不必進行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。


            2. 可測定微小區域的反射率

            用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑(?60 μm),可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。


            3. 測定時間短

            由于使用了Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測光機構,可以進行快速、再現性很高的測定。


            4. 支持XY色度圖、L*a*b*測定

            可以依據分光測色法,通過分光反射率測定物體顏色。


            5. 可以測定高強度鍍膜的膜厚

            采用干涉光分光法,可以在不接觸、無損的情況下測定被檢物的膜厚(單層膜)。


            鏡片反射率測定儀 USPM-RU III:規格

            測定波長

            380 nm~780 nm

            測定方法

            與參照樣本的比較測定

            被檢物N.A.

            0.12(使用10×物鏡時)
            0.24(使用20×物鏡時)
            * 與物鏡的N.A.不同。

            被檢物W.D.

            10.1 mm(使用10×物鏡時)
            3.1 mm(使用20×物鏡時)

            被檢物的曲率半徑

            -1R ~-∞、+1R~∞

            被檢物的測定范圍

            約?60 μm(使用10×物鏡時)
            約?30 μm(使用20×物鏡時)

            測定再現性(2σ)

            ±0.1%(380 nm~410 nm測定時)
            ±0.01%(410 nm~700 nm測定時)

            顯示分辨率

            1 nm

            測定時間

            數秒~十幾秒(因取樣時間而異)

            光源規格

            鹵素燈 12 V 100 W

            載物臺Z方向驅動范圍

            85mm

            PC接口

            USB方式

            裝置重量

            機身:約20 kg(PC、打印機除外)
            光源用電源:約3 kg
            控制器盒:約8 kg

            裝置尺寸

            機身:
            300(W)×550(D)×570(H) mm
            光源用電源:
            150(W)×250(D)×140(H) mm
            控制器盒:
            220(W)×250(D)×140(H) mm

            電源規格

            光源用電源:
            100 V(2.8 A)/220 V AC
            控制器盒:
            100V(0.2A)/220V AC

            使用環境

            水平且無振動的地方
            溫度: 23±5 °C
            濕度: 60%以下、無結露

            * 本裝置不保證溯源體系中的jue對精度。
            * 可以特別訂做測定波長440 nm~840 nm規格。



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