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            著色滲透探傷劑

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            OmniScan X3相控陣探傷儀

            2021-06-26
            OmniScan X3相控陣探傷儀
            詳細介紹:

            OmniScan X3相控陣探傷儀

            OmniScan X3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和高級成像功能,可使用戶更加充滿信心地完成檢測。

            獨特創新的全聚焦方式(TFM)

            更好的缺陷成像性能,可以更清晰地顯示微小的缺陷

            可為早期的高溫氫致(HTHA)缺陷成像,

            以在最為關鍵的早期探測到這種缺陷

            機載聲學影響圖(AIM)的反射率模擬器有助于

            以圖像方式顯示全聚焦方式(TFM)的靈敏度,還可以根據實際情況進行調節

            屏幕上最多可顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,有助于缺陷的解讀和定量


            改進的相控陣技術

            zui大脈沖重復頻率是OmniScan MX2探傷儀的3倍

            單獨的衍射時差(TOFD)菜單,加快了工作流程

            改進的快速相控陣校準,使用戶享有更輕松的操作體驗

            800%的高波幅范圍,減少了重新掃查的需要

            機載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能,加速了創建設置的過程


            標簽

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